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原子力显微镜
Atomic Force Microscope, AFM
产地国别:马来西亚
仪器分类:电子光学仪器
联系人:徐老师
联系方式:0571-61121018
邮箱:bmllbzzx@zjenergy.com.cn
品牌
布鲁克 Bruker Dimension Icon
仪器原理
当微悬臂上带有微小探针的一端接近样品表面时，探针与样品表面原子之间的相互作用会改变微悬臂的运动状态，这种改变将被检测器感应并记录，最终给出样品表面形貌、力学、电学等信息。
仪器功能
可用于开展样品表面微区三维形貌、纳米力学、电学、原位电化学、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力等的测试表征。
